摘要: 探讨儿童期不良经历对抑制控制能力的影响及在N170和P300成分上的特点.方法 使用儿童期不良经历问卷(Adverse Childhood Experiences,ACE)从烟台某高校筛选出15名ACE有儿童期不良经历学生和15名对照学生,呈现负性情绪面孔材料,记录脑电数据.结果 在行为数据上ACE被试和正常被试正确率和反应时差异无统计学意义(P值均>0.05).在GO的条件下,ACE组在FZ,CZ和PZ上的P300波幅大于对照组(t值分别为2.11,2.44,3.19,P值均<0.05);ACE组在FZ,CZ和PZ电极上的P300潜伏期大于对照组(t值分别为3.71,3.21,3.25,P值均<0.01).在NOGO的条件下,ACE组在FZ上的N170潜伏期大于对照组(t=2.13,P<0.05);ACE组在CZ和PZ上的P300波幅大于对照组(t值分别为3.50,2.56,P值均<0.05);ACE组在FZ和CZ电极上的P300潜伏期大于对照组(t值分别为2.35,2.53,P值均<0.05).结论 与对照组被试相比,有儿童期不良经历的个体需要更多的心理资源做出抑制反应,反应速度更慢,儿童期不良经历降低大学生对负性情绪刺激的抑制控制能力.